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      日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列

      日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列

      產(chǎn)品型號:

      所屬分類:超聲波測厚儀

      產(chǎn)品時間:2025-08-05

      簡要描述:日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列
      通常,為了測量片材的寬度方向上的厚度分布,檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶并進行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段,但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上,則其傳送的精度遠遠低于激光位移計的精度,從而導(dǎo)致結(jié)果。高精度測量是困難的。

      詳細說明:

      日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列

      這是使用β射線(beta射線)的測厚儀(膜厚計)。以非接觸方式(β射線)測量薄片和板狀物體的厚度和密度(基本重量)。通過直接與參考物質(zhì)比較來計算厚度和密度(基本重量),而不是直接測量厚度。
       通常,為了測量片材的寬度方向上的厚度分布,檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶并進行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段,但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上,則其傳送的精度遠遠低于激光位移計的精度,從而導(dǎo)致結(jié)果。高精度測量是困難的。
       另一方面,在諸如β射線測厚儀之類的通過透射衰減來估計厚度的方法中,測量了空氣層-樣本-空氣層與滲透之間的衰減,但是樣本的衰減遠大于空氣的影響,運輸?shù)挠绊憙H表現(xiàn)為空氣層厚度的變化,并且影響很小。因此,可以高精度地進行測量。

      β射線測厚儀的一般特點

      1. 基本重量可以在不依賴于元素的情況下進行測量。

      我們的β射線測厚儀與常規(guī)β射線測厚儀相比的特點

      1. 無需設(shè)置資格或控制區(qū)域(帶顯示的身份驗證設(shè)備)
      2. 檢測單元和β射線源單元緊湊,輕便,甚至可以安裝在狹窄的地方。

      采用

      • 塑料膜(多層擠出膜等)
      • 電池電極(鋰離子電池(負極/正極),鎳氫電池等)
      • 玻璃纖維布
      • 陶瓷片
      • 銅箔,鋁箔,不銹鋼箔

      日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列

      貝塔射線測厚儀SB-1100


      β射線測厚儀SB-1100的規(guī)格
       
      物品規(guī)格
      姓名貝塔射線測厚儀SB-1100
      測量方法Beta射線透射法
      驗證碼設(shè)置114(帶顯示的認證設(shè)備)
      檢測方式閃爍檢測器方法
      測量間距標準2mm(可提供更細的間距)
      掃描寬度標準150-3000mm(也可提供其他寬度)
      掃描速度15-200毫米/秒(標準)
      框架結(jié)構(gòu)O型等各種鏡框
      測量范圍0-200克/平方米2
      光斑尺寸約φ8.0mm(標準)(上班)
      Beta射線源80 x 110毫米x 235毫米(標準)
      檢測單元80 x 110毫米x 235毫米(標準)
      電源100V單相1kVA


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