一、核心技術(shù)：雙法合一，突破傳統(tǒng)檢測(cè)局限

1. 無(wú)損渦流探頭（非接觸式）

• 測(cè)量原理：電磁渦流感應(yīng)，零接觸、零損傷

• 測(cè)量范圍：0.5–200 Ω/□

• 測(cè)量光斑：φ25 mm

• 核心價(jià)值：保護(hù)脆弱薄膜、透明涂層、精密面板表面無(wú)劃痕，適合大批量快速篩檢

2. 四探針接觸探頭（高精度式）

• 測(cè)量原理：經(jīng)典四探針?lè)ǎ瑪?shù)據(jù)權(quán)1威可溯源

• 測(cè)量范圍：0.001–4000 Ω/□

• 針距：3 mm，測(cè)量區(qū)域 9 mm

• 核心價(jià)值：覆蓋超低阻到高阻全量程，滿足研發(fā)標(biāo)定、質(zhì)量仲裁、精度校準(zhǔn)需求

3. 整機(jī)硬核性能

• 手持輕量化：主機(jī)約 350 g，單手可操作

• 自動(dòng)測(cè)量：探頭輕觸 / 放置樣品即自動(dòng)啟動(dòng)

• 超長(zhǎng)續(xù)航：電池連續(xù)工作 24 小時(shí)

• 數(shù)據(jù)管理：存儲(chǔ) 50,000 組數(shù)據(jù)，支持 USB 導(dǎo)出

• 多單位顯示：Ω/□、S/□、膜厚 nm 一鍵切換

二、全場(chǎng)景落地：從面板到新材料，覆蓋全產(chǎn)業(yè)鏈

場(chǎng)景 1：顯示面板行業(yè) —— ITO/TCO 柔性導(dǎo)電膜量產(chǎn)檢測(cè)

• 前道卷對(duì)卷生產(chǎn)：無(wú)損探頭快速篩檢，不劃傷膜面

• 后道成品抽檢：四探針探頭高精度復(fù)核

• 實(shí)際成效：

• 產(chǎn)品報(bào)廢率從 0.8% 降至 0.1%

• 檢測(cè)效率提升 3 倍

• 批次一致性達(dá)標(biāo)率達(dá) 99.5%

場(chǎng)景 2：建筑節(jié)能玻璃 —— LOW?E 鍍膜在線質(zhì)檢

• 全程使用無(wú)損探頭，輕放即測(cè)

• 2 秒 / 片，適配高速產(chǎn)線節(jié)拍

• 實(shí)時(shí)判定合格 / 不合格

• 實(shí)際成效：良品率達(dá) 99.8%，節(jié)能指標(biāo)穩(wěn)定達(dá)標(biāo)

場(chǎng)景 3：前沿新材料 —— 石墨烯 / 碳納米管 / 納米銀線研發(fā)表征

• 無(wú)損探頭保護(hù)樣品不被破壞

• 四探針提供高精度基準(zhǔn)數(shù)據(jù)

• 直讀膜厚換算值，快速建立工藝曲線

• 實(shí)際成效：研發(fā)周期縮短 40%，數(shù)據(jù)可直接用于論文與專1利

場(chǎng)景 4：消費(fèi)電子 —— 抗靜電涂層來(lái)料快檢

• 無(wú)損探頭快速初篩

• 四探針對(duì)異常品精準(zhǔn)復(fù)核

• 手持便攜，倉(cāng)庫(kù) / 產(chǎn)線隨處可測(cè)

• 實(shí)際成效：檢驗(yàn)效率提升 5 倍，不合格來(lái)料有效攔截

三、方案價(jià)值：一臺(tái)設(shè)備，解決全流程檢測(cè)難題

1. 降本增效

   一機(jī)替代無(wú)損儀 + 四探針儀兩臺(tái)設(shè)備，采購(gòu)與維護(hù)成本更低。

2. 品質(zhì)保障

   無(wú)損保護(hù)高價(jià)值產(chǎn)品，接觸測(cè)量確保精度，雙重保障質(zhì)量。

3. 全場(chǎng)景適配

   實(shí)驗(yàn)室研發(fā)、產(chǎn)線全檢、來(lái)料檢驗(yàn)、現(xiàn)場(chǎng)抽檢均可勝任。

4. 數(shù)據(jù)可追溯

   大容量存儲(chǔ) + USB 導(dǎo)出，滿足 ISO、IATF 等體系審核要求。

5. 易用易普及

   無(wú)需專業(yè)培訓(xùn)，工人快速上手，降低人力成本。

四、總結(jié)：面向未來(lái)的導(dǎo)電材料檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)