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      適用于檢查光學(xué)薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷設(shè)備介紹

      發(fā)布時間:2024-11-13 點擊量:1101

      適用于檢查光學(xué)薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷設(shè)備介紹

      光學(xué)分辨率1.8μm/速度檢測!
      用于基材和金屬表面的缺陷檢查!

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      概述

      這是使用高分辨率相機和高精度XY平臺的二維檢查裝置。
      適用于檢查光學(xué)薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷。
      光學(xué)分辨率為1.8μm,可實現(xiàn)高清檢查。
      它還可以處理尺寸測量,還可以檢查二維沖壓產(chǎn)品。

      特征

      • 自動保存檢測數(shù)據(jù)和圖像

      • 攝像頭像素數(shù):900萬像素

      • 高光學(xué)分辨率(1.8μm)讓您可以清晰地看到精細(xì)的檢查點。

      • 非常適合檢查觸摸屏的外圍電極和印刷電路板上的精細(xì)布線是否有斷線和短路。


      目的

      用于檢查觸摸面板、異物等缺陷!

      • 觸控面板周邊電極缺陷檢測

      • 板材表面劃痕及異物檢查

      • 電路板缺陷檢查

      系統(tǒng)配置


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