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      產(chǎn)品中心

      Product center

      FET(Power Mos)測試機和測量儀器簡介

      發(fā)布時間:2024-03-21 點擊量:1525

      FET(Power Mos)測試機和測量儀器簡介

      我公司專業(yè)從事半導體檢測設備和測量儀器的設計和生產(chǎn)。
      發(fā)布本公司生產(chǎn)的測試儀,包括場效應管L負載測試儀、場效應管、晶體管熱阻測量儀等。
      規(guī)格可以根據(jù)產(chǎn)品樣品進行更改,并且我們可以根據(jù)測量條件滿足各種要求,例如升高或降低電壓或電流。

       

      EF-5202面板
      EF-5202面板

      EF-5202面板背面EF-5202面板背面

       

      l 負載測試設備(MOS FET)

      l 負載測試設備(MOS FET)
      該裝置是對樣品施加安全操作區(qū)(ASO)內(nèi)的高電壓和大電流以檢查樣品是否會被破壞的測試裝置。

      將L(電感)連接到樣品(DUT)的漏極作為負載,并控制輸入柵極電壓來
      切換DUT。由于DUT的切換,L負載兩端會產(chǎn)生反電動勢,根據(jù)此時產(chǎn)生的電壓和電流來測試DUT的耐受能力。

       

      測量規(guī)格

       VDS電源VG1電源VG2電源
      設定電壓范圍0.0V~50.0V0.0V~+30.0V0.0V~-30.0V
      設置分辨率1.0V0.1V0.1V
      輸出電流40A以上+100mA以上-100mA以上
      設定精度±(1%+0.5A)以內(nèi)±(1%+0.1A)以內(nèi)±(1%+0.1A)以內(nèi)

       

      電流限制
      設定電流0A~40A
      解決1A
      檢測時間99uS最大1uS步長

      鉗位電源
      輸出電壓999V最大1.0V步進
      設定精度±(1%F?S+10V)

       

      現(xiàn)成產(chǎn)品概要

      場效應管-901
      大功率負載測試設備500V-100A
      場效應管-902
      小功率L負載測試設備200V-30A
      FET/晶體管組合型

      場效應管-9205
      可以用ROM編程
      EF-5002
      硬 L 和軟 L 測試可使用同一端子進行。
      可進行 100V-60A 多路復用器操作(2CH)。



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