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      可同時檢測反射率和透射率的薄膜測厚技術(shù)

      發(fā)布時間:2022-04-26 點擊量:1648

      可同時檢測反射率和透射率的薄膜測厚技術(shù)

      F10-RT 是一款緊湊型桌面測量系統(tǒng),集成了測量單元和測量臺。可同時測量反射率和透射率,輕松分析膜厚、折射率和消光系數(shù)。

      只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接,無需調(diào)整光學系統(tǒng)即可進行復雜設置,而且設置非常簡單。

      要特點

      • 緊湊型桌面測量系統(tǒng),集成測量單元和測量臺
        光譜范圍廣,可選擇多種光源

      • 可同時測量反射率和透射率,并具有膜厚、折射率和消光系數(shù)分析功能,
        同時用標準維護相機記錄測量位置。

      • 放個樣品就好了。無需調(diào)整光學系統(tǒng),設置非常簡單

      主要用途

      平板聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、增透膜、PET、玻璃基板上的各種光學薄膜
      光學鍍膜玻璃、眼鏡、鏡片等的硬涂層。
      薄膜太陽能電池CdTe、CIGS、非晶硅等

      測量示例

      用于平板的透明電極ITO的膜厚和折射率的測量實例
      同時測量反射率和透射率。薄膜厚度分析 FIL Measure 軟件即時分析薄膜厚度、折射率等。



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