日本標(biāo)準(zhǔn)型薄膜測(cè)試儀連續(xù)測(cè)厚機(jī)FT-A200/FT-A200R介紹

薄膜測(cè)厚儀，又稱為測(cè)厚儀、薄膜厚度檢測(cè)儀、薄膜厚度儀等，薄膜測(cè)厚儀專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。

配備高精度測(cè)量頭和放大器單元的機(jī)器。
只需設(shè)置從生產(chǎn)線切出的薄膜，即可輕松連續(xù)測(cè)量厚度。

FT-A200 測(cè)量范圍 / 10 μm 至 200 μm
FT-A200R 測(cè)量范圍 / 3 μm 至 100 μm
測(cè)量分辨率/ 0.01 μm